Explore el resplandor de la tecnología XRF
00 Días
00 Horas
00 Actas
00 Segundos
0%
Fischer Logo
Presentación de los nuevos XDAL® y XDV®

El resplandor de la
Tecnología XRF

Los nuevos FISCHERSCOPE® XDAL® y XDV®, combinados con el avanzado software FISIQ® X.

Tecnología LED de vanguardia

Ilumine cada detalle

Con la nueva iluminación LED multizona y la cámara de visión general de alta resolución, no se le escapará ningún detalle. Ya sean superficies mates, brillantes o reflectantes: perfectamente iluminadas para el análisis más preciso.

Campana de medición automatizada

Funcionamiento manos libres sin esfuerzo

Experimente una flexibilidad inigualable con una campana motorizada que se adapta a su flujo de trabajo. Utilícela manualmente con solo pulsar un botón o confíe en la automatización controlada por software para obtener procesos continuos y sin interrupciones.

Geometría de medición optimizada

Precisión redefinida

La separación mejorada entre el tubo de rayos X, la muestra y el detector proporciona una salida de intensidad máxima, garantizando una precisión de medición sin precedentes. Esta geometría refinada proporciona resultados confiables y de alta calidad en todo momento.

Iluminación de estado intuitiva

Siempre indicando el proceso

La tira de luces LED indica claramente el estado del dispositivo de un vistazo. La luz azul indica el modo de espera, la verde significa que el dispositivo está listo para medir y la naranja intermitente indica una medición en curso.

El brillo de la precisión en acción

Vea nuestro clip de presentación y descubra cómo los nuevos XDAL®, XDV® y el innovador software FISIQ® X están revolucionando su forma de trabajar.

El mejor equipo para sus aplicaciones

Los nuevos XDAL® y XDV® abarcan una gama excepcionalmente amplia de aplicaciones y son socios esenciales y versátiles a la hora de aportar precisión y eficacia a sus mediciones cotidianas.

Ag-solución Ag/Cu Ag/Cu/CuZn Ag/Cu/Foil Ag/CuZn Al/Si Aleación de Au Solución de Au Au/Base Aleación Au/Cu Au/Fe Au/Ni/ABS Au/Ni/Cu Au/Ni/Cu/Ti/Si Au/NiP/Cu/PCB Aleación Au/Rh/Au Au/Si AuAs/Si Solución AuCo Solución AuNi Cr/Base Cr/Ni/Cu/ABS Cr/Ni/Cu/Zn Análisis de aleaciones de Cu Solución de Cu Cu/FR4 Cu/FeNi Análisis del acero inoxidable Gold-Setup Ir/Pt/Foil Ni/Al Ni/Fe NiMnCoC/Al NiP/Al NiP/Cu NiP/Cu/PCB NiP/Fe NiV/Si Aleación de Pd/NiP/Cu PdNi/Ni/Cu/ABS Pt/Foil Pt/PdNi/Ni/CuZnPb PtIrCe/C Aleación Rh/Au/Ni/Cu/Fe RoHS Ru/PdNi/Ni/CuZnPb Análisis Sn Sn/Cu Sn/Cu/CuZn Sn/Cu/FR4
Sn/CuZn Sn/Acero inoxidable Sn/Fe Sn/Ni/Cu Sn/Ni/Cu/Ti/Si Sn/Ni/CuSn Sn/Ni/CuZnSnFeCrNiAgTi Solución SnCu Solución SnFe Ti/Base Ti/Si TiN/WCCo WTi/Si Solución de Zn Zn/Fe ZnFe/Fe ZnNi/Fe Zr/Cr/Ni/CuZnPb
Y muchos más...
Más inteligente, más rápido, mejor

FISIQ® X: el futuro brillante del
Software XRF

Nuestra nueva plataforma de software FISIQ® X, la primera solución XRF con tecnología de IA, permite obtener resultados más rápidos y precisos y ofrece una experiencia de usuario completamente nueva.

Moderna interfaz
de usuario

Información simplificada y flujo
de trabajo más eficaces

Aumento de la productividad
gracias a la tecnología de IA

DOS DISPOSITIVOS, UNA NUEVA GENERACIÓN Y MÁXIMA VERSATILIDAD

Elige tu brillo

Optimizado para todos los sectores: mediciones precisas para una amplia gama de materiales y requisitos.

FISCHERSCOPE®

XDAL®

Nuestro multitalento con una robusta carcasa con ranura en C.

xdal xdv
FISCHERSCOPE®

XDV®

Nuestro todoterreno de gama alta con carcasa totalmente cerrada.

Galvanoplastia & Recubrimiento

Confíe en las mediciones precisas de los recubrimientos funcionales y decorativos.

Industria
de PCB´s

Analice ENIG/ENEPIG en placas de circuito impreso con la máxima precisión.

Semi-
conductores

Medición de capas ultrafinas/metalización en obleas para desarrollo y control de procesos.

Energía
automotriz

Medidas optimizadas para materiales de pilas de combustible y baterías.

Banca, aduanas y joyería

Análisis precisos de metales preciosos, monedas y joyas.

Y muchos
más

Garantice mediciones precisas y confiables en una amplia gama de sectores.

Tanto si se trata de un multitalento versátil como de un todoterreno de gama alta, con la última tecnología XRF de Fischer no tendrá que renunciar a la precisión ni a la eficacia.

FISCHERSCOPE®
XDAL® 620

Download
FISCHERSCOPE®
XDAL® 650

Download
FISCHERSCOPE®
XDV® 850

Download
Uso El multitalento para mediciones de capas finas y muy finas < 0,05 μm y para análisis de materiales en el rango de ppm. El todoterreno de gama alta para mediciones de capas finas y muy finas, incluso < 0,05 μm
Ejemplos de aplicación NiP/Cu, NiP/Fe, Au/NiP/Cu/PCB (ENIG), Au/Pd/NiP/Cu/PCB (ENEPIG), Au/Pd (EPIG/EPAG) y muchos más. Cu/Si, NiP/Si, Al/Si, PtIrCeC, NiMnCoC/Al, Au-aleación, Au/Cu-aleación y muchos más.
Ejemplos del sector Industria de galvanoplastia y revestimiento, industria de PCB y muchas más Semiconductores, energía y automoción, banca, aduanas, marcaje, joyería y relojería, etc.
Colimadores 4 veces intercambiable
0,05 x 0,05 mm o 0,025 x 0,025* mm
0,5* mm
4 veces intercambiable
0,05 x 0,05 mm o 0,025 x 0,025* mm
3 mm
Filtros primarios 6 veces intercambiable
Ni10 - frei - Al1000 - Al 500 - Al100 - Mylar100
6 veces intercambiable
Ni10 - frei - Al1000 - Al 500 - Al100 - Mylar100
Detector Detector de deriva de silicio (SDD) de 20 mm². Detector de deriva de silicio (SDD) de 50 mm². Detector de deriva de silicio (SDD) de 50 mm².
Tubo de rayos X Tubo de microenfoque con ánodo de wolframio, otros disponibles bajo pedido Tubo de microenfoque con ánodo de wolframio, otros disponibles bajo pedido
Procesador de impulsos DPP+ DPP+
Distancia de medición 0 a 140 mm 0 a 140 mm
Alojamiento Ranura en C Cerrado
Capota automática Opcional Estándar
Luz de estado
Resolución de la cámara principal 4208 x 3120 4208 x 3120
Visión general de la resolución de la cámara 2592 x 1944 2592 x 1944
Recorrido del eje Z 140 mm, motorizado 140 mm, motorizado
Velocidad máxima de desplazamiento Z 30 mm/s 30 mm/s
Recorrido XY 255 x 235 mm, motorizada 255 x 235 mm, motorizada
Velocidad máx. de desplazamiento XY 80 mm/s 80 mm/s
Precisión escénica ≤ 2 µm unidireccional ≤ 2 µm unidireccional
Tamaño máx. de la muestra (H/W/D) 140 x 350 x 300 mm 140 x 350 x 300 mm
Gama de elementos Al-U, capas y elementos ilimitados Al-U, capas y elementos ilimitados
Software FISIQ® X FISIQ® X

¡Tome el control de la precisión hoy mismo!

Llevemos su flujo de trabajo al siguiente nivel con XDAL®, XDV® y el software FISIQ® X. Póngase en contacto con nosotros y descubra el futuro del XRF adaptado a sus necesidades.

Déjenos sus datos para contactarlo lo antes posible.