ส่องสว่างทุกรายละเอียด
ด้วยระบบไฟ LED แบบมัลติโซนใหม่และกล้องถ่ายภาพที่มีความละเอียดสูง ช่วยให้คุณสามารถมองเห็นทุกรายละเอียดได้อย่างแม่นยำ ไม่ว่าจะเป็นพื้นผิวที่มีลักษณะด้าน มันเงา หรือสะท้อนแสง ระบบนี้มอบแสงสว่างที่เหมาะสมที่สุด เพื่อการวิเคราะห์ที่ต้องการความแม่นยำสูงสุด
การทำงานแบบแฮนด์ฟรีอย่างง่ายดาย
สัมผัสประสบการณ์ที่ไม่มีใครเหมือนด้วยฝาเปิดปิดเครื่องที่ใช้มอเตอร์ คุณสามารถสั่งงานได้ด้วย การกดปุ่มเพียงครั้งเดียว หรือเลือกใช้ระบบอัตโนมัติที่ควบคุมโดยซอฟต์แวร์ เพื่อให้กระบวนการวัด ดำเนินไปอย่างราบรื่นและไม่มีสะดุด
ปรับให้มีความแม่นยำมากขึ้น
สามารถปรับระยะห่างระหว่างหลอดเอ็กซ์เรย์ ตัวอย่าง และตัวตรวจจับเพื่อให้ได้ความเข้มข้นของ X-Ray สูงสุด ช่วยให้วัดค่าได้อย่างแม่นยำและไม่มีใครเทียบได้ ด้วยรูปลักษณ์ใหม่นี้ จะได้ผลการวัดที่แม่นยําน่าเชื่อถือและมีคุณภาพสูงในการวัดแต่ละครั้ง
รู้ทุกขั้นตอนการทำงาน
แถบไฟ LED แสดงสถานะของเครื่องมือวัดได้อย่างชัดเจน ไฟสีน้ำเงินแสดงสถานะสแตนด์บาย ไฟสีเขียวแสดงสถานะเครื่องพร้อมสำหรับการวัด และไฟสีส้มกะพริบแสดงสถานะเครื่องกำลังทำการวัด
พบกับความแม่นยำที่เพิ่มขึ้นในการทำงาน
ชมคลิปเปิดตัวผลิตภัณฑ์ XDAL® และ XDV® รุ่นใหม่ รวมถึงซอฟต์แวร์ FISIQ® X ที่ล้ำสมัยของเรา เพื่อค้นพบว่าผลิตภัณฑ์เหล่านี้จะเข้าไปช่วยเหลือการทำงานของคุณได้อย่างไร
เหมาะสำหรับแอปพลิเคชันที่หลากหลายของคุณ
ผลิตภัณฑ์ XDAL® และ XDV® รุ่นใหม่ นอกจากจะมีความหลากหลายในการวัดที่โดดเด่นแล้ว ยังมอบความแม่นยำและประสิทธิภาพในการวัดสำหรับการใช้งานในชีวิตประจำวันของคุณได้อย่างยอดเยี่ยม
ด้วย ซอฟต์แวร์ FISIQ® X – XRF
ซอฟต์แวร์ FISIQ® X รุ่นใหม่ของเราเป็นโซลูชัน XRF ตัวแรกที่ใช้เทคโนโลยี AI ซึ่งช่วยให้ผู้ใช้สามารถได้รับผลลัพธ์ที่รวดเร็วและแม่นยำยิ่งขึ้น นอกจากนี้ ยังมอบประสบการณ์การใช้งานที่เปลี่ยนโฉมใหม่อย่างแท้จริงสำหรับผู้ใช้
เลือกรุ่นที่เหมาะสมสำหรับคุณ
การปรับให้เข้ากับทุกภาคส่วน – มาพร้อมกับการวิเคราะห์วัสดุด้วยความแม่นยำและความต้องการ การวัดที่หลากหลายมาขึ้น
XDAL®
ความสามารถหลากหลายของเราพร้อมด้วยรูปลักษณ์แบบ C-slot ที่แข็งแกร่ง
XDV®
เครื่องมือวัดระดับไฮเอนด์ ออกแบบโครงสร้างปิดมิดชิด เพื่อประสิทธิภาพการวัดและความแม่นยำสูงสุด
ไม่ว่าคุณจะเลือกใช้เครื่องมือที่มีความสามารถหลากหลายหรือเครื่องมือระดับไฮเอนด์ที่ครบครัน ด้วยเทคโนโลยี XRF ล่าสุดจาก Fischer คุณสามารถมั่นใจได้ด้วยดวามแม่นยำและมีประสิทธิภาพ
|
FISCHERSCOPE® XDAL® 620 Download |
FISCHERSCOPE® XDAL® 650 Download |
FISCHERSCOPE® XDV® 850 Download |
|
|---|---|---|---|
| ความสามารถในการวัด | เครื่องมือวัดที่มีความสามารถหลากหลายสำหรับการวัดชั้นบางและชั้นบางมาก โดยเฉพาะชั้นที่มีความหนา < 0.05 μm รวมถึงการวิเคราะห์วัสดุในช่วง ppm. | เครื่องมือวัดอเนกประสงค์ระดับสูงสำหรับการวัดชั้นที่บางมากและบางที่สุด รวมถึงค่า < 0.05 μm | |
| ตัวอย่างการใช้งาน | NiP/Cu, NiP/Fe, Au/NiP/Cu/PCB (ENIG), Au/Pd/NiP/Cu/PCB (ENEPIG), Au/Pd (EPIG/EPAG) และอื่นๆ อีกมากมาย | Cu/Si, NiP/Si, Al/Si, PtIrCeC, NiMnCoC/Al, Au-alloy, Au/Cu-alloy และอื่นๆ อีกมากมาย | |
| ตัวอย่างอุตสาหกรรม | อุตสาหกรรมชุบโลหะด้วยไฟฟ้าและชุบเคลือบผิว, อุตสาหกรรม PCB และอื่นๆ อีกมากมาย | เซมิคอนดักเตอร์, พลังงานและยานยนต์ การธนาคาร ศุลกากร ตราสัญลักษณ์ เครื่องประดับและนาฬิกา และอื่นๆ อีกมากมาย | |
| คอลลิเมเตอร์ |
เปลี่ยนแปลงได้ 4 เท่า
0.05 x 0.05 มม. หรือ 0.025 x 0.025* มม. 0,5* มม. |
เปลี่ยนแปลงได้ 4 เท่า
0.05 x 0.05 มม. หรือ 0.025 x 0.025* มม. 3 มม. |
|
| ตัวกรองหลัก | เปลี่ยนแปลงได้ 6 เท่า Ni10 — frei — Al1000 — Al 500 — Al100 — Mylar100 | เปลี่ยนแปลงได้ 6 เท่า Ni10 — frei — Al1000 — Al 500 — Al100 — Mylar100 | |
| เครื่องตรวจจับ | 20 mm² silicon drift detector (SDD) | 50 mm² silicon drift detector (SDD) | 50 mm² silicon drift detector (SDD) |
| หลอดเอกซเรย์ | หลอดไมโครโฟกัสพร้อมขั้วบวกทังสเตน มีแบบอื่นให้เลือกตามคำขอ | หลอดไมโครโฟกัสพร้อมขั้วบวกทังสเตน มีแบบอื่นให้เลือกตามคำขอ | |
| โปรเซสเซอร์พัลส์ | DPP+ | DPP+ | |
| ระยะการวัด | 0 ถึง 140 มม. | 0 ถึง 140 มม. | |
| Housing | C-slot | Closed | |
| ฝาเครื่องเปิดปิดแบบอัตโนมัติ | เพิ่มเติมได้ | มาตรฐาน | |
| ไฟแสดงสถานะ | มี | มี | |
| ความละเอียดของกล้องหลัก | 4208 x 3120 | 4208 x 3120 | |
| ภาพรวมความละเอียดของกล้อง | 2592 x 1944 | 2592 x 1944 | |
| Z-axis travel | 140 มม. ขับเคลื่อนด้วยมอเตอร์ | 140 มม. ขับเคลื่อนด้วยมอเตอร์ | |
| Max. travel speed Z | 30 มม./วินาที | 30 มม./วินาที | |
| XY-travel | 255 x 235 มม. มอเตอร์ | 255 x 235 มม. มอเตอร์ | |
| Max. travel speed XY | 80 มม./วินาที | 80 มม./วินาที | |
| Stage precision | ≤ 2 µm ทิศทางเดียว | ≤ 2 µm ทิศทางเดียว | |
| ขนาดพื้นที่วัดตัวอย่างสูงสุด (สูง/กว้าง/ลึก) | 140 x 350 x 300 มม. | 140 x 350 x 300 มม. | |
| ช่วงการวัด | Al-U, unlimited layers and elements | Al-U, unlimited layers and elements | |
| ซอฟต์แวร์ | FISIQ® X | FISIQ® X | |
เริ่มต้นด้วยเครื่องที่มี ความแม่นยำตั้งแต่วันนี้!
ยกระดับเวิร์กโฟลว์ของคุณด้วยเครื่อง XDAL® และ XDV® รุ่นใหม่ รวมถึงซอฟต์แวร์ FISIQ® X ติดต่อเราวันนี้เพื่อพบ XRF ที่ถูกออกแบบมาเพื่อตอบสนองความต้องการเฉพาะของคุณ!